深圳光博會(huì)期間是德科技發(fā)布的新品為：帶內(nèi)置56GBaud時(shí)鐘恢復(fù)CDR功能的采樣示波器N1092系列產(chǎn)品;支持FEC交互測試的N4891A分析儀。

這兩款新產(chǎn)品均是面向400G光模塊生產(chǎn)測試，將進(jìn)一步完善是德科技現(xiàn)有400G測試設(shè)備系列產(chǎn)品，同時(shí)將加快400G光模塊產(chǎn)業(yè)進(jìn)程。

N1092內(nèi)置集成CDR的方案實(shí)際上是N1092和N1078A的組合方案，作為一體化解決方案可大限度地降低連接復(fù)雜性并降低成本?？蛻艨梢詫⒐庑盘?hào)直接連接到N1092 / CDR而無需復(fù)雜的去連接兩臺(tái)分立的儀器(N1092和N1078A)。N1092即可向上兼容也可以向下兼容，即可測試從25G到400G PAM4光模塊。同時(shí)推出兩個(gè)版本一個(gè)測試光通道和兩個(gè)測試光通道，客戶可根據(jù)自身要求進(jìn)行選擇適合自己的產(chǎn)品。

在400G PAM4光模塊中，Transmitter and dispersion eye closure Quaternary(TDECQ)將變成最重要的測試指標(biāo)，而N1092設(shè)備則主要側(cè)重該指標(biāo)的測試。

另一款同期發(fā)布的新產(chǎn)品N4891A主要針對(duì)基于PAM4的模塊和組件進(jìn)行FEC交互物理層測試。IEEE 802.3bs / cd規(guī)范將幀丟失率(FLR)的衡量添加到400GBASE接口的一致性測試中。FLR必須在由M8040A高性能BERT生成校準(zhǔn)過的標(biāo)準(zhǔn)壓力信號(hào)的情況下進(jìn)行測量，以確定物理層損害對(duì)前向糾錯(cuò)(FEC)性能的影響。N4891A是業(yè)界首個(gè)支持該應(yīng)用，并針對(duì)400GAUI-8和400GBASE-LR8 / -FR8 / -SR8接口設(shè)計(jì)的方案。

這兩款測試設(shè)備的發(fā)布，將可極大促進(jìn)PAM4光模塊產(chǎn)業(yè)的發(fā)展。一方面其不但可以用于研發(fā)階段幫助研發(fā)人員發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品所存在的問題，同時(shí)也可以用于大批量生產(chǎn)過程中，用于產(chǎn)線上的出廠前測試。由于這兩款產(chǎn)品都對(duì)相關(guān)測試性能進(jìn)行了優(yōu)化組合，同時(shí)擯棄一些不常用的性能而留下關(guān)鍵的重要的測試性能，因此其價(jià)格方面也相對(duì)便宜，可用于轉(zhuǎn)產(chǎn)后大批量生產(chǎn)過程中的測試。